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可程式恒溫恒濕試驗箱加防爆門

可程式恒溫恒濕試驗箱加防爆門

簡要描述:可程式恒溫恒濕試驗箱加防爆門用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗。

瀏覽次數(shù):1367

所屬分類:可程式恒溫恒濕試驗箱(全不銹鋼)

產(chǎn)品時間:2024-10-15

詳情介紹

   可程式恒溫恒濕試驗箱加防爆門 用于鋰電池,光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗。

可程式恒溫恒濕試驗箱加防爆門

1、濕度范圍:5%~98%R.H(選購項)(常規(guī):30%~98% R.H)

2、濕度解釋度:0.1%R.H

3、濕度偏差:≤±2.5% R.H

4、溫度控制范圍:常規(guī)-40~+150、-120~+150(選購項)

5、溫度解釋度:0.01℃

6、波動度:±0.5℃

7、溫度偏差:≤±2℃

8、升溫速率:2.0~3.0℃/min

9、降溫速率:0.7~1.0℃/min

10. GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件   
11. GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件   
12. GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件   
13. GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件   
14. GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法   
15. GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法   
16. GB/T2423.3-93 濕熱試驗箱試驗方法   
17. GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法   
18. GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法   
19. IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法   
20. IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法   
21. GJB150.3 高溫試驗   
22. GJB150.4 低溫試驗   
23. GJB150.9 濕熱試驗

型號

80

150

225

408

608

800

1000

內(nèi)部尺寸HxD (cm)

40x50x40

50x60x50

50x75x60

60x85x80

80x95x80

100x100x80

100x100x100

外部尺寸HxD (cm)

90x136x94

100x146x104

100x161x117

110x171x137

130x181x137

150x186x137

150x186x157

溫度范圍

-70~+100(150)
(A:+25
 B:0 C:-20 D:-40 E:-50 F:-60 G:-70)

 

:

制冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。

 

 

 

 



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