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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法:《試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊》

發(fā)布時(shí)間: 2016/3/25  點(diǎn)擊次數(shù): 1154次      文件下載    圖片下載    

  (電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊)本試驗(yàn)的目的是用來(lái)揭露機(jī)械弱點(diǎn)和(或)性能下降情況,并且利用這些資料,結(jié)合有關(guān)規(guī)范,來(lái)解決樣品是否可以接收。在某些情總下,本沖擊試驗(yàn)也可以用來(lái)確定樣品的結(jié)構(gòu)完好性,或作為質(zhì)量控制的手段。

   進(jìn)行沖擊和碰撞試驗(yàn)時(shí),是將樣品固定在試驗(yàn)臺(tái)上的。而進(jìn)行傾跌與翻倒、自由跌落重復(fù)自由跌落和彈跳試驗(yàn)時(shí),樣品是不固定的。

   冷熱沖擊試驗(yàn)箱是我們公司的主打產(chǎn)品,按照國(guó)家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn),研發(fā)的。所以需要的客戶可致電咨詢。