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電子元器件模擬環(huán)境高低溫濕熱實驗

發(fā)布時間: 2022-03-14  點擊次數(shù): 1328次

實驗樣品:電子元器件

測試設備:高低溫濕熱實驗

試驗條件:雙85高溫高濕,溫濕度交變,極限溫度使用

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一、溫濕度交變實驗

     在正常環(huán)境溫度下,將電子元器件放進高低濕熱實驗中,調節(jié)溫度,-30℃~70℃,60~90%高低溫度點各保持30min,溫度升降變化率不低于1-1.2℃/min,進行200個循環(huán)(一個溫濕度過程為一個循環(huán))。

二、雙85高溫高濕

   在濕度85%、環(huán)境溫度85℃的高低溫濕熱實驗中,在額定電壓下通電,處于待機狀態(tài),試驗時間240h,控制器應無異常,試驗完成后,在常溫下恢復4h后能正常工作,不能出現(xiàn)規(guī)定功能的喪失。

三、極限溫度使用

    將整個電子元器件放置在極限環(huán)境下,電子元器件應能帶載連續(xù)正常工作8h。然后將整個電子無器件放置在極限的環(huán)境下,電子元器件應能帶載連續(xù)正常工作8h。

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